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三次元测量仪想要有更大量程需要有非接触探测技术的支持

  随着制造业的发展,制造业的零件整体性要求越来越高,这就要求三次元测量仪能够实现对大型零件的精确测量。但受限于传统接触式探测技术的缺陷,三次元测量仪始终无法满足对较大零件的精确测量。为保障三次元测量仪也能对大零件的精确测量,发展大量程三次元测量仪非常有必要。而根据多家影像测量仪器厂家的研究表明,三次元测量仪想要有更大量程需要有非接触探测技术的支持。只有非接触的探测技术,才能让三次元测量仪实现有更大量程的精确测量。

  很多业内人士都知道,三次元测量仪是一种通过三维取点来进行测量的测量设备,其测量原理上是需要通过借助探针(或探头、测头)与测量空间轴线运动的配合,对被测几何元素进行离散的空间点位置的获取,再通过一定的数学计算得到相应的测量数值的。因此,三次元测量仪的量程往往受到探针的超程、探测器信号感应与传输距离等因素影响的,而其中探测技术的影响往往比较大。

  而随着三次元测量仪探测技术的发展,非接触探测技术的问世让三次元测量仪实现对较大零件的精确测量形成了可能。非接触测量是以光电、电磁等技术为基础,在不接触被测物体表面的情况下,得到物体表面参数信息的测量方法。因为无需接触就能测量,所以理论上非接触测量方式将比接触式测量方式拥有更大的量程。在此背景下,三次元测量仪想要有更大量程需要有非接触探测技术的支持。(守护伦)

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