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七海测量复合式影像测量对微小尺寸实现高精度检测

随着光学影像测量仪及自动化智能技术的进步,七海测量不断突破传统限制,致力更高精度,不断在各个领域拓展新影像测量方案。
 
近年来,随着大国之间竞争激烈,各国在半导体行业加大投入研发,抢占市场份额。在此背景下,各企业在半导体芯片封装领域加大研发,对微小尺寸检测领域需求提出了苛刻要求,
现有检测设备精度已无法满足。急需超高精度大行程光学测量方案解决微小尺寸的高精度测量需求。七海测量通过Optiv Reference 10103高精度影像测量仪解决客户微小尺寸测量需求,助力客户在该产业领域的研发实力。
 
前期验证阶段,Optiv团队协调国内资源,对客户调研产品进行大量的测试。首先使用客户深圳工厂的一台Optiv Advantage 443HA影像测量仪(E1=0.5+L/900μm ;E2=1.0+L/700μm)进行测试,通过客户现有的这台设备在成像效果和测量精度上都无法满足需求,客户建议我们提供更高精度的影像测量仪进行测试,提出了更高的要求。这基于对影像产品团队的信任,同时也是对我们团队的一次考验。
 
影像测量仪.jpg
 
这一切都变得复杂,如何更快解决客户难点?七海测量影像团队深知要改变测量战略,采用更高配置的复合式影像测量仪,完成高精度测量。下期为您带来具体解决方案。

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