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七海测量推出头戴式耳机外观瑕疵检测方案

耳机是一种常见的电子产品,深受年轻人的喜爱。戴上耳机,心潮澎湃!耳机主要包括头戴式耳机和入耳式耳机,入耳式耳机体积小携带方便,头戴式耳机使用时接触面积大、压强小、对耳蜗细胞刺激小。因此长时间佩戴应优先选择头戴式耳机。在生产时为了严格把控其质量、提高合格率,需进行瑕疵检测
 
为了实现全自动高效检测头戴式耳机外观瑕疵,严格把控产品质量,七海测量技术推出的头戴式耳机外观瑕疵检测设备,全面筑建耳机质量城墙,为客户创造了巨大的价值,得到了客户的广泛认可!
 
设备概念图
 
                  侧视图                                      正视图
瑕疵检测.jpg
单位:mm
头戴式耳机实物图
 头戴耳机瑕疵检测方案.jpg
 
多个点位进行管口外侧短射与熔接痕、毛边及浇口残留检测。设备运行速度快,CT仅为26秒。多个高精度部件:高像素相机、远心镜头,同轴光与环形光搭配实现准确瑕疵测量。
 
工作流程如下:
 
25.jpg
设备首先对产品进行全面检测,接下来进行外侧测试及侧面测试(两个X轴运动方向相逆,同步测量2个侧面),进行顶部测试(2个点位同时进行)。
 
头戴式耳机外观瑕疵设备通过多个CCD对产品进行全面检测,护航头戴式耳机的生命线,为耳机生产厂家提供的定制化解决方案,以可靠、高效的优异表现保障产品质量。
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